炬(ju)豐(feng)科技(ji) 半(ban)導(dao)體工藝與集(ji)成電路可靠(kao)性設(she)計(ji)中(zhong)的軟件(jian)開(kai)發(fa)關鍵作(zuo)用(yong) 產品(pin)大全(quan) 深(shen)圳市近安網(wang)絡(luo)安(an)全(quan)服務(wu)有限(xian)公(gong)司(si)

電(dian)路級(ji)設(she)計(ji)：采(cai)用(yong)冗余設(she)計(ji)、糾錯(cuo)編(bian)碼(ma)（ECC）、片上監控電(dian)路（如(ru)溫(wen)度傳感器、電壓(ya)探測器）等技(ji)術，使芯(xin)片具備自我檢測(ce)與(yu)容錯(cuo)能(neng)力(li)。
版(ban)圖與物(wu)理(li)設(she)計(ji)：通過電(dian)遷移(yi)（EM）和(he)靜電放電(dian)（ESD）的仿真分(fen)析(xi)，優化電(dian)源網(wang)絡(luo)和(he)I/O布(bu)局，避免(mian)因(yin)電(dian)流(liu)密(mi)度過高(gao)或(huo)瞬(shun)時(shi)電壓(ya)沖(chong)擊導(dao)致(zhi)的失效(xiao)。
老(lao)化與(yu)壽(shou)命預測(ce)：利用(yong)可靠(kao)性模型(xing)（如Black、Coffin-Manson模型(xing)）和加(jia)速壽命測試(shi)（ALT）數(shu)據，在(zai)設(she)計(ji)階段就(jiu)預(yu)測產(chan)品在預(yu)期(qi)壽(shou)命內的失效(xiao)率，指導(dao)設(she)計(ji)裕量(liang)的設(she)定。

工(gong)藝開(kai)發(fa)與制程控制(zhi)軟件(jian)：公(gong)司(si)開(kai)發(fa)了(le)專(zhuan)用(yong)的工藝仿真平臺和實(shi)時(shi)監控系統。這些(xie)軟(ruan)件(jian)能夠(gou)對復(fu)雜(za)的物理(li)化學(xue)反應進行(xing)多(duo)尺度模擬(ni)，預測(ce)工(gong)藝結果(guo)，並(bing)利用(yong)大數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)從(cong)生(sheng)產設(she)備(bei)中(zhong)收集(ji)的數據(ju)，實(shi)現工(gong)藝窗口(kou)的實(shi)時(shi)優化與(yu)偏差的快速糾正(zheng)，顯(xian)著(zhu)提(ti)升(sheng)了(le)工(gong)藝的壹致(zhi)性(xing)與成(cheng)品率。

電(dian)子設(she)計(ji)自動(dong)化（EDA）工(gong)具與內部套(tao)件(jian)：除(chu)了(le)使(shi)用(yong)業界(jie)主流(liu)EDA工(gong)具進行(xing)前(qian)端(duan)設(she)計(ji)和後(hou)端(duan)實(shi)現外(wai)，炬(ju)豐(feng)科技(ji)還(hai)自主(zhu)研(yan)發(fa)了(le)多(duo)項(xiang)輔助軟(ruan)件(jian)。這些(xie)工(gong)具專註(zhu)於(yu)可靠(kao)性分(fen)析(xi)，例(li)如，自動(dong)進行(xing)信號(hao)完整(zheng)性（SI）/電(dian)源完整(zheng)性（PI）分(fen)析(xi)、熱(re)分(fen)布模擬(ni)、以及(ji)針(zhen)對特(te)定失(shi)效(xiao)機制(zhi)（如負偏壓(ya)溫(wen)度不穩定性(xing)NBTI）的退化仿(fang)真。它們(men)與(yu)設(she)計(ji)流(liu)程(cheng)無縫集(ji)成(cheng)，使設(she)計(ji)師能(neng)在設(she)計(ji)早(zao)期就識(shi)別(bie)並(bing)消(xiao)除(chu)可靠(kao)性風(feng)險點。

可靠(kao)性測(ce)試(shi)與(yu)數據(ju)分(fen)析(xi)平臺：軟件(jian)開(kai)發(fa)團隊(dui)構(gou)建了(le)統(tong)壹的測試(shi)管(guan)理、數(shu)據(ju)采(cai)集與(yu)分(fen)析(xi)平臺。該平臺能自動(dong)化處理海(hai)量(liang)的可靠(kao)性測(ce)試(shi)數(shu)據（如(ru)HTOL高(gao)溫工(gong)作(zuo)壽(shou)命測試(shi)、ESD測(ce)試(shi)等(deng)），運(yun)用(yong)統計(ji)分(fen)析(xi)和(he)機(ji)器學習算(suan)法，快速定位失效(xiao)模式(shi)，追(zhui)溯(su)根(gen)本(ben)原(yuan)因(yin)，並(bing)生(sheng)成(cheng)詳(xiang)細(xi)的可靠(kao)性報(bao)告。這不(bu)僅(jin)加快了(le)產(chan)品(pin)認(ren)證(zheng)速度(du)，還為工藝和設(she)計(ji)的叠代改進提(ti)供(gong)了(le)精(jing)準的數據(ju)反饋(kui)。

面(mian)向(xiang)應用(yong)的系統級(ji)健(jian)康管(guan)理(li)軟件(jian)：對於(yu)最(zui)終的客戶(hu)系統，炬(ju)豐(feng)科技(ji)提(ti)供(gong)配套(tao)的軟件(jian)棧，用(yong)於(yu)監(jian)控芯(xin)片在(zai)實(shi)地運(yun)行(xing)中(zhong)的健(jian)康狀(zhuang)況(kuang)。這些(xie)軟(ruan)件(jian)可以(yi)讀取芯(xin)片內置(zhi)傳感器的數據(ju)，評(ping)估(gu)性(xing)能(neng)衰減(jian)，甚(shen)至預(yu)測(ce)潛在故(gu)障，實(shi)現預(yu)防性(xing)維護(hu)，從而(er)將芯(xin)片的可靠(kao)性價(jia)值(zhi)延伸(shen)到整(zheng)個(ge)產品(pin)生(sheng)命周期(qi)。

炬豐(feng)科技(ji) 半(ban)導(dao)體工藝與集(ji)成電路可靠(kao)性設(she)計(ji)中(zhong)的軟件(jian)開(kai)發(fa)關鍵作(zuo)用(yong)